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                                    Location:HomeProducts材料分析ICP-MS質譜儀

                                    SPECTRO MS

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                                    • 全譜同時測量和儲存5-240 amu的無機質譜,實現更精確的實時內部標準化、快速指紋識別,包括對瞬態信號的測量,取得最高的樣品處理量,每日多達1000份樣本
                                    • 追溯分析:在測量后編輯所有同位素參數,再重新計算光譜和分析;即使增加的同位數最初沒有包括在方法中 
                                    • 風冷式的27 MHz自由運行發生器,節省成本,提高運行安全性并輕松應對挑戰性應用

                                    SPECTRO MS是馬陶赫-赫爾佐格型雙聚焦扇形場ICP-MS(ICP質譜儀),擁有新開發的離子光學和首創性的探測器技術。它是目前市場上現有的能通過到達探測器的不變離子束同時測量無機質譜法所用完整質量范圍(從鋰6到鈾238)的ICP-MS儀器。

                                    靈活性高的ICP-MS

                                    使用SPECTRO MS ICP MS,完整質譜的數據儲存在方法開發方面實現高度的靈活性,使得日后再鑒定樣品中元素成為可能,即使樣品已不再存在。

                                    具備同位素分析能力的ICP-MS 

                                    SPECTRO MS是斯派克公司首臺不僅能全譜同時測定元素成分,也能測定從鋰到鈾等整個質量范圍同位數比值的ICP-MS(ICP質譜儀)。全譜同時測定可帶來明顯提高的精確性,從而開發新的應用領域。

                                    效率領先的ICP-MS

                                    高樣品處理量是每一臺分析儀器盈利能力的關鍵。SPECTRO MS ICP MS為全譜同時分析、簡單操作和最高可靠性設定新標準。

                                    精確且準確的ICP-MS

                                    憑借G3離子探測器的驚人讀出能力,SPECTRO MS ICP MS儀器可獲得優秀的檢出限、精確性和準確性。

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